3月18日，海南大学南海海洋资源利用国家重点实验室（以下简称南海国重实验室）特邀请日立公司技术人员在南海国重实验室530室开展关于扫描电镜SEM、透射电镜TEM及原子力显微镜AFM技术的专题讲座。此次讲座由南海国重实验室公共仪器平台管理人吴云娣老师主持，电镜应用资深专家王勐博士主讲。

王勐博士从不同领域的最新研究成果和应用作为切入点，对SEM、TEM和AFM这三种表征技术进行了阐述与分析，他指出，这三种表征技术具有独特的优势，能够在原子级别到纳米级别的尺度下对样品进行高分辨率成像和表征。通过SEM，研究人员可以获取样品表面的微观形貌信息，包括颗粒大小、形状和表面结构等。而TEM则能够深入到样品的内部结构，揭示材料的晶体结构、缺陷和界面特征，为材料科学的研究提供重要线索。另外，AFM不仅能够直接探测样品表面，提供高分辨率的三维表面图像，还可以测量表面力学性质，如弹性和摩擦力。这三种技术的结合应用，使得研究人员能够全面地了解样品的形貌、结构和性质，为生物学、植物学、医学、药学、海洋科学和材料学等领域的研究提供了关键工具。

王勐博士作报告

来自海南大学不同学院的同学参加了此次讲座，讲座现场气氛热烈，同学们积极思考并与王博士就技术细节展开了深入交流和讨论。通过讲座，同学们不仅拓宽了专业视野，还加深了对SEM、TEM及AFM技术的理解，同时也提升了对该技术的应用能力，为今后的科研工作提供了有力的支持。

讲座现场

撰稿：李佳男

初审：吴云娣

终审：邓 群