1.设备型号：Spectra 300 S/TEM

2.生产厂家：Thermo Fisher Scientific

3. 主要应用范围：

材料形貌、电子衍射、高分辨图像及成分分析；

材料原子结构分析（重、轻原子）；

三维结构分析；

多相多场（力、热、电、气）原位实验。

4. 主要特色：

凭借宽极靴物镜及30~300 kV加速电压范围，可满足最广泛的材料研究需求，集成先进的软件及自动化模块，可更加高效、便捷、重复性获得最高分辨率原子尺度结构及化学信息，并配备了原位加载力、加热、通电、通气体及三维重构样品杆。

5. 主要规格及技术指标：

1. 分辨率：

1.1 TEM信息分辨率（非线性）：300 kV，70 pm；

1.2 STEM分辨率：300 kV，50 pm；80 kV，96 pm；

2. 加速电压：30 – 300 kV内可自由切换，常用80 kV，200 kV，300 kV；

3. 电子枪：超稳定高亮肖特基场发射电子枪(X-FEG)，配备电子枪单色器；束斑漂移 ≤ 0.5 nm/min@300 kV；

4. 球差矫正器：配备物镜和聚光镜双球差矫正器；

5. 洛伦兹透镜：实现在无场环境下对磁性样品的观察；洛仑兹模式可与物镜球差校正器配合使用，信息分辨率 < 1 nm @ 300 kV；

6. 一体化能谱仪：配备四个对称式电制冷能谱探头，探测器面积：≥ 120 mm²；能量分辨率≤136 eV (Mn-Kα)；最大输入计数率： ≥ 800 kcps；可进行快速原子级尺寸的点、线、面的定性定量分析，原子尺度面分布分析；

7. 样品杆：

7.1 超大视野低背底双倾样品杆；

7.2 标准单倾样品杆；

7.3 三维重构样品杆：最大图像漂移：X/Y方向 ≤ 2 µm (+/- 70°内倾转)；最大欠焦量变化：≤ 4 µm (+/- 70°内倾转)；

7.4 原位力热耦合样品杆（双倾）：最高加载温度：1200 ℃，控温精度：≥95%；应力加载模式：拉伸/压缩，驱动行程：≥2 μm；倾转方式：双倾，α轴倾转角度：± 20°，β轴倾转角度：± 10°，空间分辨率：≤0.1 nm；

8. 扫描透射系统：

8.1 包括高角环形暗场探头（HAADF）、明场探头（BF）和 暗场探头（DF）；配备总数16分割的多分割探头STEM 系统，可同时采集至少4幅来自不同角度的电子信号，包括明场 (BF) ，环形明场 (ABF) 或环形暗场 (ADF) ，高角环形暗场 (HAADF) 的图像；

8.2 多分割探头的每个象限均可实现独立收集信号并成像，支持实时微分相位成像系统，可以实现固有磁场和电场的测量；支持实时微分相位衬度积分成像 STEM 技术，可实现轻重元素同时成像，并支持低剂量高衬度成像。

9. 样品台：五轴增强型全自动压电陶瓷样品台，样品移动范围：X/Y： ±1 mm ; Z: ±0.375 mm，样品漂移速率: ≤ 0.5 nm/min；最小移动精度：≤ 20 pm；

10. 图像记录观察装置：

10.1 配置TEM一体化高速高动态数字相机，快速寻找观察兴趣区；

10.2 配置TEM一体化快速Ceta-S CMOS相机：

像素：感应尺寸：4,096*4,096像素，像素大小：≥14*14 µm²；

读取速度：40 fps @ 4k*4k，300 fps @ 512*512；可实时拍摄不间断录像；

存放地点：海南大学（海甸校区）8教皮米电镜中心113室

联系人：李老师（18273157634）、武老师（13303368533）