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设备型号：Verios G4 UC

生产厂家：Thermo scientific

仪器介绍：

利用二次电子或背散射电子信号对金属材料、半导体材料及高分子材料等微观结构进行表面形貌及断口分析。并配合能谱仪在对样品进行形貌观察的同时，对元素进行半定量分析，可测定元素成分，点扫描、面扫描和线扫描等。广泛应用在材料、生物、医药、玻璃陶瓷等众多领域的研究与产品质量控制。

主要规格及技术指标：

同时装有二次电子和背散射电子探测器； 配有电制冷能谱仪系统；二次电子分辨率在最佳工作距离时分辨率：15kV优于0.6nm；1kV优于0.7nm；着陆电压：20V-30kV；电子束流：0.8pA-100nA（连续可调）；物镜光阑能自加热自清洁；配备电子束减速模式。

主要功能及特色：

利用二次电子或背散射电子信号对金属材料、半导体材料及高分子材料等微观结构进行表面形貌及断口分析，并配合能谱仪对样品元素进行半定量分析。

主要附件及配置：

等离子清洗器一套。极靴内二次电子和背散射电子探头各一套；极靴内ICD和MD探头一套；等离子清洗一套；电子枪和单色器一套；定向背散射电子探头；电制冷能谱仪。

存放地点：分析测试中心102室

联系人：符老师

联系电话：157-6558-3095